X熒光光譜測(cè)試電鍍層厚度的范圍

         鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法： 1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-2005    2、X-ray法（X射線熒光測(cè)厚）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-2005 3、庫(kù)侖法，適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005   

         X射線熒光鍍層測(cè)厚儀(Thick800/EDX600)系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀,能提供金屬鍍層厚度的測(cè)量,同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,對(duì)于常規(guī)電鍍鍍層厚度的穿透范圍，如表中所示。